而數顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。
陶瓷材料的介質損耗主要來源于電導損耗、松弛質點的極化損耗和結構損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導也會引起較大的損耗。
器。可以在工頻高壓下，現場測量各種決緣材料、決緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗角正切值（tgδ）和電容值（Cx）。儀器為一體化結構，內置標準電容器和升壓電源，體積小、重量輕，便于攜帶，具有操作簡單、自動測量、讀數直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強等優點,亦可外接電源與本廠生產的各種規格的高電壓等級的標準電容器配套使用，用以測量高壓介損。
緊密結構的晶體離子都排列很有規則，鍵強度比較大，如α-Al2O3、鎂橄欖石晶體等，在外電場作用下很難發生離子松弛極化，只有電子式和離子式的位移極化，所以無極化損耗，僅有的一點損耗是由漏導引起的（包括本質電導和少量雜質引起的雜質電導）。這類晶體的介質損耗功率與頻率無關，損耗角正切隨頻率的升高而降低。因此，以這類晶體為主晶相的陶瓷往往用在高頻場合。如剛玉瓷、滑石瓷、金紅石瓷、鎂橄欖石瓷等
6位數字顯示；In: 英制測量模式；INC：相對測量模式；ABS：決對測量模式；Set： 初始值設置； ：電池電壓低報警（ 電池的更換見后面五注意事項 ）； ： 數據輸出。 5）數據發送按鍵（本裝置沒有此功能） 6）ABS /INC/UNIT 按鍵：短按時（小于 1 秒）為 ABS /INC 轉換，長按時（大于 1 秒） 為英制/公制轉換。 7）ON/OFF/ SET 按鍵：短按時為開關液晶顯示屏；長按時為初始值設置。 8）平板電容器極片 9）夾具插頭 2．被測樣品的準備 被測樣品要求為圓形，直徑 50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊 緣電場引起的誤差的有效辦法。
該儀器同樣適用于車間、試驗室、科研單位測量高壓電器設備的tgδ及電容量；配以決緣油杯可測試決緣油介質損耗。
陶瓷材料的損耗
把配用的 Q 表主調諧電容置于較小電容量。
品止（注意調節時要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示 屏上的數值，既是樣品的厚度 D2。改變 Q 表上的主調電容容量，使 Q 表處于諧振點上。 b. 取出平板電容器中的樣品，這時 Q 表又失諧，此時調節平板電容器，使 Q 表再 回到諧振點上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為 D4 c. 計算被測樣品的介電常數： Σ＝D2 / D4 5．介質損耗系數的測試 a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到 Q 表測試回路的“電容”兩個端上。 把被測樣品插入二極片之間，改變 Q 表上的主調電容容量，使 Q 表處于諧振點上，讀得 Q 值，記為 Q2。電容讀數記為 C2。 b. 取出平板電容器中的樣品，這時 Q 表又失諧，再改變 Q 表上的主調電容容量，使 Q 表重新處于諧振點上。讀得 Q 值，記為 Q1。電容讀數記為 C1。 c. 然后取下測試裝置，再改變 Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數記 為 C3，此時可計算得到測試裝置的電容為 CZ = C3 －C1 d. 計算被測樣品的介質損耗系數
配用 Q 表作為調諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的 Q 值變 化，可測得決緣材料的損耗角正切值。
各部件名稱： 1）棘輪測力（測微桿） 2）刻線讀數裝置 3）鎖緊裝置 4）液晶顯示屏
該儀器是發電廠、變電站等現場全自動測量各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度儀器。能保證在強電場干擾下準確測量。儀器增加了中文菜單功能，操作更為簡單，方便。一次操作，微機自動完成全過程的測量。是目前醉理想的介損測量設備。
該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接接地的高壓電器設備。
損耗角正切值）的測試。916 介質損耗測試裝置采用了帶數顯的 微測量裝置，因而在測試時，讀數更直觀方便，數據更精確。
專業生產介電常數測定儀
全自動抗干擾介質損耗測試儀是一種新穎的測量介質損耗角正切值（tgδ）和電容值（Cx）的智能化儀 介質損耗測試儀圖片
把本測試裝置上的夾具插頭插入到 Q 表測試回路的“電容”兩個端子上。
結構松散的離子晶體，如莫來石（3Al2O3·2SiO2）、董青石（2MgO·2Al2O3·5SiO2）等，其內部有較大的空隙或晶格畸變，含有缺陷和較多的雜質，離子的活動范圍擴大。在外電場作用下，晶體中的弱聯系離子有可能貫穿電極運動，產生電導打耗。弱聯系離子也可能在一定范圍內來回運動，形成熱離子松弛，出現極化損耗。所以這類晶體的介質損耗較大，由這類品體作主晶相的陶瓷材料不適用于高頻，只能應用于低頻場合。
多種測量方式 可選擇正/反接線、內/外標準電容器和內/外試驗電壓進行測量。正接
儀器內部裝備了高壓升壓變壓器，并采取了過零合閘、防雷擊等安全保護措施。試驗過程中直接加220V交流電源，可輸出2KV、5KV、10KV 不同等級的高壓，操作簡單、安全。
專業生產介電常數測定儀
特點：n 自動簡單 接線簡單（正接法兩根線，反接可使用一根線），所有電纜線均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，測量電壓緩升、緩降，全自動測量，結果直讀，無須換算。
復雜玻璃中的介質損耗主要包括三個部分：電導耗、松弛損耗和結構損耗。哪一種損耗占優勢，取決于外界因素溫度和電場頻率。高頻和高溫下，電導損耗占優勢：在高頻下，主要的是由弱聯系離子在有限范圍內移動造成的松弛損耗：在高頻和低溫下，主要是結構損耗，其損耗機理還不清楚，可能與結構的緊密程度有關。般來說，簡單玻璃的損耗是很小的，這是因為簡單玻璃中的“分子”接近規則的排列，結構緊密，沒有弱聯系的松弛離子。在純玻璃中加人堿金屬化物后。介質損耗大大增加，并且隨著加人量的增大按指數規律增大。這是因為堿性氧化物進人玻璃的點陣結構后，使離子所在處點陣受到破壞，結構變得松散，離子活動性增大，造成電導損耗和松弛損耗增加。
工作特性 1. 平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ25.4mm （標配） 可選 極片間距可調范圍：≥15mm 2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz） 4．測微桿分辨率：0.001mm
工作原理 本測試裝置主要由一個數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成，平板電 容器用于夾持被測材料樣品。
配上和測試頻率相適應的高 Q 值電感線圈（本公司 Q 表配套使用的 LKI-1 電感組 能滿足要求），如：1MHz 時電感取 250uH，15MHz 時電感取
樣品厚度可在 1--5mm 之間，樣品太薄或太厚就會使測試 精度下降，樣品要盡可能平直。 下面推薦一種能提高測試精確性的方法：準備二片厚 0.05mm 的圓形錫膜，直徑和平 板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接 觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳， 然后放上被測樣品。
在結構緊密的陶瓷中，介質損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質損耗也增大。因面一般高頻瓷，如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數電陶瓷的離子松弛極化損耗較大，主要的原因是：主晶相結構松散，生成了缺固濟體、多品型轉變等。 [3]
線可測量高壓介損離子晶體的介質損耗與其結構的緊密程度有關。
測試準備工作 先要詳細了解配用 Q 表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響。
同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到 決緣材料介電常數。
高分子材料的損耗
玻璃的損耗
高分子聚合物電介質按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性兩類。一般地，偶極矩在0~0.5D（德拜）范圍內的是非極性高聚物；偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數和介質損耗，其介電常數約為2，介質損耗小于10-4；極性高聚物則具有較高的介電常數和介質損耗，并且極性愈大，這兩個值愈高。
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